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在同級(jí)產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來(lái)Z高納米級(jí)分辨率的測(cè)量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測(cè)量，從而精確成像和測(cè)量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來(lái)*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì)受影響。
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